WGS全基因组脱靶检测

产品介绍常见问题经典案例结果展示


结果展示

特有变异位点分析

根据分析结果,分析不同样品之间共有、特有的 SNP,当样本数小于5时,绘制成韦恩图(Venn Graph)。

脱靶位点及序列展示

采用 NCBI 比对工具 blastn 将 sgRNA 序列与参考基因组进行比对,筛选出同源区域,在 sgRNA 同源区域筛选 NGG 结构,得到可能的脱靶位点,采用 circos 图进行展示。

注:Circos 图从外圈到内圈分别表示 AGG、TGG、CGG、GGG 位点。

以图形的方式依次绘出序列比对中各个位置上出现的碱基,每个位置上碱基的累积可以反 应出该位置上碱基的一致性。
每个碱基对应图形字符的大小与残基在该位置上出现的频率成 正比。

靶标编辑类型分析

针对靶标位点的 reads,对其编辑类型进行统计,直观的看出靶点具体编辑情况。

WGS 插入脱靶检测